Regress Pro 1.4.1

回歸Pro是可用於研究的實驗數據，從光譜橢偏儀或反射計未來科學/工業軟件。回歸臨已開發主要用於測量薄膜的在半導體工業中的應用。該軟件同時適用於確定層的厚度，並確定介電材料的光學特性 什麼在此版本中是新的： 在該版本修正了幾個錯誤，改善了一些小的可用性問題。這是回歸臨的所有用戶推薦的升級。 在什麼版本1.4.0是新的： ...