autopano-sift-C 2.5.0
在SIFT特徵檢測算法已被發明和大衛·羅威在不列顛哥倫比亞大學出版。該算法提供了能力範圍內識別關鍵特徵點任意圖像。它進一步提取高度不同信息，為每個這樣的點，並允許該點不變的許多修改對圖像的特徵。這是不變的對比度/亮度變化，旋轉，縮放和不變的部分向其他類型的轉換。該算法可以靈活用於創建輸入數據，圖像匹配，目標識別等計算機視覺相關算法。利用SIFT算法自動全景創作已經在他們的論文“認識全景”已經開發了馬修·布朗和大衛·洛。什麼是新的，在此版本：...
在SIFT特徵檢測算法已被發明和大衛·羅威在不列顛哥倫比亞大學出版。該算法提供了能力範圍內識別關鍵特徵點任意圖像。它進一步提取高度不同信息，為每個這樣的點，並允許該點不變的許多修改對圖像的特徵。這是不變的對比度/亮度變化，旋轉，縮放和不變的部分向其他類型的轉換。該算法可以靈活用於創建輸入數據，圖像匹配，目標識別等計算機視覺相關算法。利用SIFT算法自動全景創作已經在他們的論文“認識全景”已經開發了馬修·布朗和大衛·洛。什麼是新的，在此版本：...